昨日有不少報道指出，一些用戶的128G版iPhone 6 Plus頻繁死機(jī)，分析原因可能是TLC NAND存儲器控制IC的缺陷，盡管128GB的容量更大，但是讀寫的速度比較慢。因此iPhone 6 Plus可能會被大規(guī)模召回。

但據(jù)最新消息顯示，“召回”事件并不存在。事實(shí)上，確實(shí)有iPhone 6 Plus出現(xiàn)了崩潰，但只是少數(shù)。截至目前，蘋果官方論壇上關(guān)于iPhone 6 Plus崩潰的帖子共有177個回復(fù)，且不排除這些回復(fù)中有很多出自同一人的可能性。另外，這些“中招”的用戶通常都安裝了500至1000個應(yīng)用，因此，推測該問題與閃存有關(guān)未必準(zhǔn)確，而因該問題被召回的說法也完全是空穴來風(fēng)。

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